中儀光科為大家*報道：加州納米技術研究所所長陳德良，談電子顯微鏡對納米技術的工作環(huán)境。

記者：嗨， 這是勞合社陳德良。

陳德良：嗨，你好。

我加州納米技術研究所所長。 我想告訴你，簡單地說，這是掃描電子顯微鏡（SEM）。 這是一個非常的，敏感的電子顯微鏡，允許放大成千上萬倍，甚至幾百千倍。 因此，我們可以有能力的考查，觀察，看物質，在一個大的放大倍率方式的一個樣本。 基本上，這是一種手段，在這里我們使用的電子束，這是一個電子束在這里的源。 當你打開電源后，它升溫和您激活它，將發(fā)送電子束電子射線通過此列。  在這里，我們有電子磁透鏡，這使我們能夠集中精力和直接的電子束對某些目標。 通過操縱這些旋鈕，我們可以重定向的電子樣本。 當電子束撞擊標本，它反映了一定的方向之間的電子和表面化學和樣品的物理性質，化學性質，使得它能夠看到的電子反射和標本從這里電子之間的相互作用。

因此，從探測器的圖像對齊到計算機上。 在這里，我們可以觀察到在屏幕上的圖像好得多。 我們使用這種大屏幕，教我們的學生在電子顯微鏡下觀察。 這些都是我的電路的典型樣本。 我們可以放大成千上萬倍。 事實上，我們可以地測量這些microlevels尺寸甚至納米級低。 而這些都是我們從這個掃描電子顯微鏡看到的某些圖像。 關于掃描電子顯微鏡的優(yōu)點，它可以讓我們有一個非常準確的認識問題的表面。 它讓我們來考察，實驗，學習，開發(fā)新產品，掃描電子顯微鏡發(fā)現下。 勞埃德陳德良與加州納米技術研究院。

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